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晶振系列

首頁進(jìn)口晶振泰藝晶振,TX晶振,3225晶振,臺產(chǎn)晶振

    泰藝晶振,TX晶振,3225晶振,臺產(chǎn)晶振

  • 規(guī)格型號:85781149
  • 頻率:10.000MHZ-52.000MHZ
  • 尺寸:3.2*2.5*0.9mm 詳細(xì)資料請查看PDF
  • PDF
  • 產(chǎn)品描述:主要應(yīng)用領(lǐng)域:無線通訊,平板筆記本W(wǎng)LAN,藍(lán)牙,數(shù)碼相機(jī),DSL和其他IT產(chǎn)品的晶振應(yīng)用,三態(tài)功能,PC和LCDM等高端數(shù)碼領(lǐng)域.

泰藝晶振,TX晶振,3225晶振,臺產(chǎn)晶振
參數(shù):頻率范圍10.000MHZ-52.000MHZ
電源電壓: 3.0V
負(fù)載電容: 10PF
工作溫度: -30℃~+85℃

保存溫度: -40℃~+85℃
精度 ±2.0ppm
捆包單位:3000pcs/reel
尺寸:小體積設(shè)計(jì)3.2*2.5*0.9mm
應(yīng)用:QCM感測,GPS全球定位系統(tǒng),信息計(jì)算機(jī)設(shè)備,基礎(chǔ)通信設(shè)備,網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和無線通信等產(chǎn)品。

        泰藝經(jīng)營團(tuán)隊(duì)以客戶為本不斷地改善,追求最高的品質(zhì)品質(zhì)宣言:泰藝電子股份有限公司為一生產(chǎn)石英晶體頻率控制元件的專業(yè)廠商,過去數(shù)年中我們的產(chǎn)品于世界競爭市場中,始終保持著領(lǐng)先地位,面對未來多變的環(huán)境及規(guī)劃公司企業(yè)前景。
        泰藝電子的所有生產(chǎn)晶振工廠均獲得ISO9001品質(zhì)管理及 ISO14001環(huán)境管理系統(tǒng)的認(rèn)證。從研發(fā)到出貨均依循國際法規(guī)要求,提供符合最新國際標(biāo)準(zhǔn)(有毒有害物質(zhì)管理要求,如 RoHS、REACH, 廢棄物回收再利用如WEEE)之產(chǎn)品與服務(wù)。

       泰藝晶振,TX晶振,3225晶振,臺產(chǎn)晶振,屬于臺灣泰藝品牌的有源晶振,具有3225mm的小尺寸,和3.0V的低電壓,所以也是一款低功耗低電壓晶振,溫度特性為工作時-30℃~+85℃,保存溫度是-40℃~+85℃,能夠抵抗惡劣的環(huán)境條件,TX晶振滿足無鉛高溫回流焊溫度曲線特性,常用于要求比較高的產(chǎn)品身上,可發(fā)揮其良好的電氣特性。

泰藝晶振型號/輸出類型 TX晶振  泰藝SMD晶振
晶振類型 TCXO振蕩器
輸出負(fù)載 10pF
振蕩模式 基本/第三泛音
電源電壓 3.0V
頻率范圍2 10.000MHZ-52.000MHZ
頻率穩(wěn)定度 ±2.0ppm
工作溫度 -30~+85℃
保存溫度 -40~+85℃
電壓卷(最大值)/ VOH(最小值) 0.1VDD/0.9VDD
啟動時間 5 ms Max.
相位抖動(12千赫?20兆赫) 1個PS最大。
老化率 ±3 ppm /年最大。



噪音
在電源或輸入端上施加執(zhí)行級別(過高)的不相干(外部的)噪音,可能導(dǎo)致會引發(fā)石英晶振功能失常或擊穿的閉門或雜散現(xiàn)象。
電源線路
電源的線路阻抗應(yīng)盡可能低。
輸出負(fù)載
建議將輸出負(fù)載安裝在盡可能靠近振蕩器的地方(在20 mm范圍之間)。
未用輸入終端的處理
未用針腳可能會引起噪聲響應(yīng),從而導(dǎo)致有源晶振非正常工作。同時,當(dāng)P通道和N通道都處于打開時,電源功率消耗也會增加;因此,請將未用輸入終端連接到VCC 或GND。
熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會降低受損害的晶體單元的產(chǎn)品特性,并導(dǎo)致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。
安裝方向
振蕩器的不正確安裝會導(dǎo)致故障以及崩潰,因此安裝時,請檢查安裝方向是否正確。
通電
不建議從中間電位和/或極快速通電,否則會導(dǎo)致貼片晶振無法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。


輸出波形與測試電路
1.時序表


2.    測試條件
(1)   電源電壓
    超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達(dá)到 90 % 。
    電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)   其他
   輸入電容低于 15 pF
   5倍頻率范圍或更多測量頻率。
   鉛探頭應(yīng)盡可能短。
   測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過溫補(bǔ)晶振的放大器時,可同時進(jìn)行測量。
(3)   其他
    CL包含探頭電容。
    應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
    使用微型插槽,以觀察波形。
(請勿使用該探頭的長接地線。)

3.    測試電路

TX系列 :在頻率電壓控制功能時,進(jìn)行連接       
1CMOS 負(fù)載
型號:

TX
·          
2 抗低,電容負(fù)載
型號:

TX
·               
3 TTL 負(fù)載
型號:

TX
·   
4 LV-PECL 負(fù)載
型號:

TX
·            
5LV-PECL 負(fù)載
型號:

TX
 
6 LV-PECL 負(fù)載
型號:

TX
 
7 LVDS 負(fù)載
型號:

TX
 
8 HCSL 負(fù)載
型號:

TX

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