晶振匹配測試
來源:http://netflixyz.com 作者:金洛鑫電子 2019年05月25
哪怕是高品質的晶振,在使用過程中多多少少都會遇到一些問題,解決的方法第一步就是找到問題的根源。導致晶振用不了的原因有很多,例如質量差,操作不當或者匹配不正確等。許多工程并不是很懂如何去匹配晶振電路,接下來金洛鑫電子會提供相關的方法,請仔細閱讀內容。
如果由于石英晶體/石英晶體振蕩器不合適而系統(tǒng)運行不正常,或者頻率偏差超出規(guī)范,匹配測試是解決這些問題的有效方法。
A.振蕩電路的測試方法
1.振蕩頻率的測量 2.驅動電平的測量
驅動電平等于工作晶體消耗的功率。如下圖所示,用電流探頭測量流入諧振器的電流(Ix)。
功率(驅動電平)的計算公式:
DL(功率)=(Ix)²xRe;其中Ix:有效當前值(rms),
Re:有效電阻,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻 3.負阻測量
負阻計算公式(-R):
|-R|=VR+Re,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻 負阻用于確定振蕩電路的振蕩裕度并預測振蕩的穩(wěn)定性。如下圖所示,將可變電阻器(VR)與晶體串聯(lián),然后逐漸增加電阻。晶振將以一定的值振蕩。
如果由于石英晶體/石英晶體振蕩器不合適而系統(tǒng)運行不正常,或者頻率偏差超出規(guī)范,匹配測試是解決這些問題的有效方法。
A.振蕩電路的測試方法
1.振蕩頻率的測量 2.驅動電平的測量
驅動電平等于工作晶體消耗的功率。如下圖所示,用電流探頭測量流入諧振器的電流(Ix)。
功率(驅動電平)的計算公式:
DL(功率)=(Ix)²xRe;其中Ix:有效當前值(rms),
Re:有效電阻,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻 3.負阻測量
負阻計算公式(-R):
|-R|=VR+Re,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻 負阻用于確定振蕩電路的振蕩裕度并預測振蕩的穩(wěn)定性。如下圖所示,將可變電阻器(VR)與晶體串聯(lián),然后逐漸增加電阻。晶振將以一定的值振蕩。
正在載入評論數據...
相關資訊
- [2020-01-09]石英晶體無塵生產車間
- [2019-07-11]剪切正弦波到CMOS轉換電路
- [2019-05-25]晶振匹配測試
- [2019-03-22]電子束密封1612晶振生產特性
- [2019-03-06]Raltron Crystal模型與電路特性...
- [2018-10-17]石英晶振工廠外景
- [2018-10-17]深圳晶振工廠車間作業(yè)實景
- [2013-04-03]溫補振蕩器分選設備